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![]() 基于密度泛函理论的β-SiO2本征缺陷电子结构分析
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期刊:Materials Today Communications 作者:Chongkun Wang; Xiaoguang Guo; Shuohua Zhang; Yongnian Qi; Shang Gao 出版日期:2023-02-06 |
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