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 Investigation of ESD and EOS Integrated Protection Device Featuring Quick Triggering, Small Snapback Voltage and Strong Robustness 快速触发、小回弹电压、强鲁棒性的ESD、EOS综合保护装置研究
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期刊：Semiconductor Science and Technology 作者：Keman Ding; Jun Sun; Moufu Kong; Jiaru Jia; Shurong Dong; et al 出版日期：2025-08-19 |
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