标题 |
Impact of Gaussian Grain Boundary Trap States on the Performance of the LTPS TFTs
高斯晶界陷阱态对LTPS薄膜晶体管性能的影响
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DOI |
10.1109/EDKCON56221.2022.1003285
doi
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10.1109/edkcon56221.2022.10032858
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