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Pulsed Force Kelvin Probe Force Microscopy─A New Type of Kelvin Probe Force Microscopy under Ambient Conditions 脉冲力Kelvin探针力显微镜──环境条件下的一种新型Kelvin探针力显微镜
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期刊:The Journal of Physical Chemistry C 作者:Amirhossein Zahmatkeshsaredorahi; Devon S. Jakob; Xiaoji G. Xu 出版日期:2024-06-08 |
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