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Examination of Trapping Effects on Single-Event Transients in GaN HEMTs GaN HEMTs中单事件瞬态俘获效应的研究
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期刊:IEEE Transactions on Nuclear Science 作者:Tolen Nelson; Daniel G. Georgiev; Michael R. Hontz; Raghav Khanna; Adrian Ildefonso; et al 出版日期:2022-11-08 |
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