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 Determination of trace elements in high-purity quartz samples by ICP-OES and ICP-MS: A normal-pressure digestion pretreatment method for eliminating unfavorable substrate Si ICP-OES和ICP-MS法测定高纯石英样品中的微量元素——一种去除不利衬底硅的常压消解预处理方法
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期刊：Analytica Chimica Acta 作者：Xuelin Dong; Yuxiang Xiong; Nan Wang; Song Zhou; Jie Yang; et al 出版日期：2020-05-01 |
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