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Defects which create trap states in electronic structure of CsSnI3 surface 在铯SnI 3表面电子结构中产生陷阱态的缺陷
相关领域
物理
存水弯(水管)
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期刊:Physics Letters A 作者:Zedong Lin; Pengfei Wu; Wenyong Feng; Yiwen Wang; Zhilin Chen; et al 出版日期:2025-06-09 |
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