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Study of the Critical Dimension Shrinkage Caused by After Development Inspection 研制后检验引起临界尺寸收缩的研究
相关领域
收缩率
维数(图论)
材料科学
计算机科学
复合材料
数学
组合数学
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期刊:Journal of the Korean Physical Society 作者:Hyungseop Kim; Hee-Won Sunwoo; Byoungho Lee; J. B. Park; Young‐Hee Kim; et al 出版日期:2011-08-05 |
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