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  Carbon and Silicon Impurity Defects in GaN: Simulating Single-Photon Emitters by First Principles GaN中的碳和硅杂质缺陷：用第一性原理模拟单光子发射器
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期刊：Materials 作者：Junxiao Yuan; Jinglei Du; Yidong Hou; Feiliang Chen; Qian Li 出版日期：2024-08-01 |
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