Review of HTRB and HTGB Reliability of SiC MOSFETs

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标题	Review of HTRB and HTGB Reliability of SiC MOSFETs SiC MOSFET的HTRB和HTGB可靠性综述相关领域可靠性（半导体） MOSFET 可靠性工程材料科学工程物理碳化硅光电子学电子工程电气工程计算机科学物理工程类晶体管电压复合材料功率（物理）量子力学
网址	https://doi.org/10.1109/ceepe62022.2024.10586507
DOI	10.1109/ceepe62022.2024.10586507 doi
其它	期刊：作者：Yongle Zhong; Xinhua He; Zhizhe Wang; Jun Luo; Bin Wang; et al 出版日期：2024-04-26
求助人	竹笙在 2024-12-09 17:15:45 发布自广东，悬赏 10 积分
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