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Nanoscale mapping of point defect concentrations with 4D-STEM
点缺陷浓度的4D-STEM纳米映射
相关领域
材料科学
空位缺陷
晶体缺陷
扫描透射电子显微镜
衍射
纳米尺度
透射电子显微镜
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正电子湮没谱学
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光谱学
场发射枪
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期刊:Acta materialia 作者:Sean H. Mills; Steven E. Zeltmann; Peter Ercius; Aaron A. Kohnert; Blas P. Uberuaga; et al 出版日期:2023-03-01 |
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