Statistical Compact Modeling of Variations in Nano MOSFETs

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标题	Statistical Compact Modeling of Variations in Nano MOSFETs
网址	http://xplorestaging.ieee.org/ielx5/4522565/4530767/04530849...
DOI	10.1109/vtsa.2008.4530849 doi
其它	期刊：2008 International Symposium on VLSI Technology, Systems and Applications (VLSI-TSA) 作者：Chung-Hsun Lin; Mohan V. Dunga; Darsen Lu; Ali M. Niknejad; Chenming Hu 出版日期：2008-05-29
求助人	GG 在 2026-10-31 21:04:15 发布自福建，悬赏 10 积分
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