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 Investigation of Single Event Effects in a Resistive RAM Memory Array by Coupling TCAD and SPICE Simulations 相关领域
电阻随机存取存储器
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背景（考古学）
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电阻式触摸屏
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期刊：Journal of Electronic Testing 作者：K. Coulié; H. Aziza; Wenceslas Rahajandraibe 出版日期：2023-05-25 |
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