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A comparison of atomic force microscopy (AFM) and dynamic light scattering (DLS) methods to characterize nanoparticle size distributions
原子力显微镜(AFM)和动态光散射(DLS)表征纳米粒子尺寸分布的比较
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期刊:Journal of Nanoparticle Research 作者:Christopher M. Hoo; Natasha Starostin; Paul West; Martha L. Mecartney 出版日期:2008-06-20 |
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