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Pattern Collapse Simulation in CMOS Image Sensors Devices
CMOS图像传感器器件中的图案崩溃模拟
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期刊:Diffusion and defect data, solid state data. Part B, Solid state phenomena/Solid state phenomena 作者:Philippe Garnier; Clément Sart; Emilie Prévost; Jérôme Dubois; B. Vianne 出版日期:2023-08-14 |
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