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Defect Detection for Metal Base of TO-Can Packaged Laser Diode Based on Improved YOLO Algorithm
基于改进YOLO算法的TO-Can封装激光器金属基座缺陷检测
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期刊:Electronics 作者:Jiayi Liu; Xuding Zhu; Xingyu Zhou; Shanhua Qian; Jinghu Yu 出版日期:2022-05-13 |
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