| 标题 |
Unraveling In‐Plane Crystallographic Anisotropy‐Dependent Memory Performance In Van Der Waals α‐In 2 Se 3 Ferroelectric Semiconductor Field‐Effect Transistors |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Advanced Materials 作者:Jong Hyun Kim; Seung-Hwan Kim; Hyeong‐Kyu Jin; Deji Akinwande; Hyun Yong Yu 出版日期:2025-11-20 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)