| 标题 |
Using scattering parameters to characterize EMI filters |
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:2004 IEEE 35th Annual Power Electronics Specialists Conference (IEEE Cat. No.04CH37551) 作者:Shuo Wang; F. Lee; W. Odendaal 出版日期:2004-06-20 |
| 求助人 | |
| 下载 |
PDF的下载单位、IP信息已删除
(2025-6-4)