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Van der Waals Epitaxy Growth and Characterization of 7:7:8 Commensurate Heterointerfaces between h-AlN and Two-Dimensional WS2/c-Al2O3 h-AlN与二维WS2/C-Al2O3 7:7:8等比例异质界面的范德华外延生长及表征
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期刊:ACS Applied Electronic Materials 作者:Wei-Chun Chen; Mu‐Huan Lee; Kun An Chiu; Wei-Lin Wang; Yen-Teng Ho; et al 出版日期:2024-01-10 |
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