Novel Error-Tolerant Voltage-Divider-Based Through-Silicon-Via Test Architecture

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标题	Novel Error-Tolerant Voltage-Divider-Based Through-Silicon-Via Test Architecture
网址	https://doi.org/10.1109/tcad.2022.3172058
DOI	10.1109/tcad.2022.3172058 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems 作者：Youngkwang Lee; Donghyun Han; Sooryeong Lee; Sungho Kang 出版日期：2022-05-02
求助人	researcher 在 2025-12-10 18:24:42 发布自河北，悬赏 10 积分
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