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Valence band edge tail states and band gap defect levels of GaN bulk and InxGa1−xN films detected by hard X-ray photoemission and photothermal deflection spectroscopy |
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期刊:Applied Physics Express 作者:Masatomo Sumiya; Shigenori Ueda; Kiyotaka Fukuda; Yuya Asai; Yujin Cho; et al 出版日期:2018-01-25 |
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