Surface passivation film optimization and electronic sensitivity characteristic test of back-illuminated CMOS

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标题	Surface passivation film optimization and electronic sensitivity characteristic test of back-illuminated CMOS 背照式CMOS表面钝化膜优化及电感特性测试相关领域钝化 CMOS芯片灵敏度（控制系统）材料科学光电子学曲面（拓扑）电气工程电子工程工程类纳米技术图层（电子）几何学数学
网址	https://doi.org/10.1117/12.3016871
DOI	10.1117/12.3016871 doi
其它	期刊：作者：Jun Ma; Chao Xiao; Shiwei Lei; Tongtong Li; Chenglin Li; et al 出版日期：2024-04-30
求助人	梅代匕花在 2024-05-13 22:29:42 发布自陕西，悬赏 20 积分
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