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Study of electrical and thermal performance in single-event burnout of partial-SOI LDMOS transistors 部分SOI LDMOS晶体管单次烧毁的电热性能研究
相关领域
LDMOS
绝缘体上的硅
材料科学
晶体管
光电子学
电气工程
倦怠
工程类
硅
电压
汽车工程
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| DOI | |
| 其它 |
期刊:Microelectronics Reliability 作者:Yanfei Gong; Xingtong Chen; Qiang Zhao; Zhensong Li; Yueqin Li; et al 出版日期:2025-04-12 |
| 求助人 | |
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