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  Evaluation of MR ratio and reliability of MTJ device having SiN sidewall by modifying reference layer thickness 相关领域
材料科学
图层（电子）
蚀刻（微加工）
制作
GSM演进的增强数据速率
纵横比（航空）
隧道磁电阻
可靠性（半导体）
阻挡层
复合材料
光电子学
物理
电信
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替代医学
计算机科学
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Yoshiteru Amemiya; J. Tsuchimoto; Hiroyuki Hosoya; Hiroki Nakanishi; Chihiro Watanabe; et al 出版日期：2022-12-28 |
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