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Influence of internal stress and layer thickness on the formation of hydrogen induced thin film blisters in Mo/Si multilayers |
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期刊:Journal of Physics D: Applied Physics 作者:R.A.J.M. van den Bos; J. Reinink; D. Lopaev; Christopher J. Lee; J. Benschop; et al 出版日期:2018-02-22 |
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(2025-6-4)