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  Use of parametric X-ray radiation of electrons in crystals to determine the parameters of imaging-plates 利用晶体中电子的参量X射线辐射来确定成像板的参数
相关领域
辐射
电子
X射线
参数统计
光学
材料科学
物理
计算物理学
核物理学
数学
统计
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期刊：Journal of Instrumentation 作者：A.V. Berdnichenko; A.V. Budko; V.V. Kolodochkin; A.S. Skliarova; Y. Takabayashi; et al 出版日期：2024-06-01 |
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