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 Investigation of Electrothermal Characteristics in Silicon Forksheet FETs for Sub-3-nm Node 亚3纳米节点硅叉片场效应晶体管的电热特性研究
相关领域
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功率延迟产品
晶体管
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期刊：IEEE Transactions on Electron Devices 作者：Jaewan Lim; Jinsu Jeong; Junjong Lee; Seunghwan Lee; Sanguk Lee; et al 出版日期：2023-10-31 |
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