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Compact Modeling of Static and Transient Effects of Buffer Traps in GaN HEMTs GaN HEMTs中缓冲陷阱静态和瞬态效应的紧凑模拟
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期刊:IEEE Transactions on Electron Devices 作者:Ajay Shanbhag; M. P. Sruthi; Anjan Chakravorty; Nandita DasGupta; Amitava DasGupta 出版日期:2022-02-03 |
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