| 标题 |
Rapid cryogenic characterization of 1,024 integrated silicon quantum dot devices 1024集成硅量子点器件的快速低温表征
相关领域
量子点
光电子学
多路复用器
量子位元
数码产品
晶体管
量子计算机
计算机科学
量子点激光器
量子
电气工程
物理
电子工程
材料科学
纳米技术
电压
半导体
工程类
多路复用
电信
量子力学
半导体激光器理论
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Nature Electronics 作者:Edward J. Thomas; Virginia N. Ciriano-Tejel; David F. Wise; Domenic Prete; Mathieu de Kruijf; et al 出版日期:2025-01-03 |
| 求助人 | |
| 下载 | |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|