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 Ionizing Radiation Effects on Hole Collection Backside-Illuminated p-Type Deep-Trench-Pinned Photo-MOS Pixels Under Image Acquisition 相关领域
光电二极管
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期刊：IEEE Transactions on Nuclear Science 作者：Aubin Antonsanti; Vincent Goiffon; F. Roy; Alexandre Le Roch; Landen D. Ryder; et al 出版日期：2023-04-04 |
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