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Comparison of GaN and InGaAs high electron mobility transistors as zero-bias microwave detectors GaN和InGaAs高电子迁移率晶体管作为零偏置微波探测器的比较
相关领域
响应度
光电子学
材料科学
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砷化镓
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期刊:Journal of Applied Physics 作者:Gaudencio Paz-Martínez; I. Íñiguez-de-la-Torre; H. Sánchez-Martín; B. G. Vasallo; Nicolas Wichmann; et al 出版日期:2022-10-05 |
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