标题 |
Monitoring and characterization of metal-over-contact based edge-contour extraction measurement followed by electrical simulation
基于金属过接触边缘轮廓提取测量和电模拟的监测与表征
相关领域
表征(材料科学)
接触电阻
GSM演进的增强数据速率
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期刊:Proceedings of SPIE 作者:Eitan N. Shauly; Israel Rotstein; Ishai Schwarzband; Ofer Edan; Shimon Levi 出版日期:2010-03-11 |
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