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 The scanning tunneling microscopy and spectroscopy of GaSb1– x Bi x films of a few-nanometer thickness grown by molecular beam epitaxy 分子束外延生长几纳米厚GaSb1-x Bi x薄膜的扫描隧道显微镜和光谱研究
相关领域
扫描隧道显微镜
分子束外延
材料科学
单层
外延
图层（电子）
光谱学
纳米
表面光洁度
光电子学
分析化学（期刊）
纳米技术
化学
物理
量子力学
复合材料
色谱法
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期刊：Journal of Semiconductors 作者：Fangxing Zha; Qiuying Zhang; Haoguang Dai; Xiaolei Zhang; Li Yue; et al 出版日期：2021-09-09 |
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