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 Low-frequency noise in the Double SOI (DSOI) MOSFETs with back-gate control 背栅控制双SOI（DSOI）MOSFET的低频噪声
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期刊：Journal of Instrumentation 作者：Y. Li; Fanyu Liu; Lei Shu; Bo Lü; Bo Li; et al 出版日期：2024-10-01 |
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