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 Event identification based on sample feature correction algorithm for Φ-OTDR 相关领域
光时域反射计
加权
计算机科学
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算法
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期刊：Measurement Science and Technology 作者：Xuan Du; Mu‐Xin Jia; Sheng Huang; Zhaoxiong Sun; Ye Tian; et al 出版日期：2023-05-10 |
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