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[高分]
 Analysis of Random Variations and Variation-Robust Advanced Device Structures 随机变化和变化稳健的先进器件结构分析
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期刊：JSTS Journal of Semiconductor Technology and Science 作者：Hyohyun Nam; Gyo Sub Lee; Hyunjae Lee; In Jun Park; Changhwan Shin 出版日期：2014-02-28 |
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