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Direct Characterization of Buried Interfaces in 2D/3D Heterostructures Enabled by GeO2Release Layer 相关领域
材料科学
异质结
表征(材料科学)
图层(电子)
纳米技术
光电子学
逐层
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期刊:ACS Applied Materials & Interfaces 作者:Christopher M. Smyth; John M. Cain; Alex Boehm; James Anthony Ohlhausen; Mila Nhu Lam; et al 出版日期:2024-01-03 |
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