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标题
Estimation of uniformity in Schottky contacts between printed Ni electrode and n-GaN by scanning internal photoemission microscopy
用扫描内光电发射显微镜评估印刷Ni电极与n-GaN之间肖特基接触的均匀性
相关领域
材料科学 电极 肖特基势垒 肖特基二极管 薄脆饼 光电子学 退火（玻璃） 半导体 外延 二极管 分析化学（期刊） 纳米技术 化学 复合材料 图层（电子） 物理化学 色谱法
网址
https://doi.org/10.35848/1347-4065/ac7bc5
DOI
10.35848/1347-4065/ac7bc5 doi
其它 期刊：Japanese Journal of Applied Physics
作者：Kenji Shiojima; Yuto Kawasumi; Yuto Yasui; Yukiyasu Kashiwagi; Toshiyuki Tamai
出版日期：2022-06-23
求助人
冷傲碧萱 在 2025-12-04 14:30:11 发布自重庆，悬赏 10 积分
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