Degradation Mapping and Impact of Device Dimension on IGZO TFTs BTI

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标题	Degradation Mapping and Impact of Device Dimension on IGZO TFTs BTI 器件尺寸对IGZO TFTs BTI的退化映射和影响相关领域降级（电信）材料科学光电子学饱和（图论）逻辑门饱和电流压力（语言学）电子工程电气工程工程类电压数学语言学组合数学哲学
网址	https://doi.org/10.1109/tdmr.2023.3282298
DOI	10.1109/tdmr.2023.3282298 doi
其它	期刊：IEEE Transactions on Device and Materials Reliability 作者：Pietro Rinaudo; Adrian Chasin; J. Franco; Z. Wu; Subhali Subhechha; et al 出版日期：2023-06-02
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