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Power Cycling Tests in High Temperature Conditions of SiC-MOSFET Power Modules and Ageing Assessment
SiC-MOSFET功率模块高温条件下的功率循环测试及老化评估
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期刊： 作者：Ali Ibrahim; Jean-Pierre Ousten; R. Lallemand; Zoubir Khatir 出版日期：2016-03-08 |
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