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![]() 含纳米Ta2O5/SiOxNy电介质叠层的Al/电介质/Si结构C-V和I-V特性的精细分析
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其它 |
期刊:Journal of Physics D 作者:N. Novkovski 出版日期:2020-10-09 |
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messi
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2025-08-28 22:20:06 发布,悬赏 10 积分
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