| 标题 |
Effects of excess Bi on structure and electrical properties of BiFeO3 thin films deposited on indium tin oxide substrate using sol–gel method 相关领域
材料科学
薄膜
分析化学(期刊)
电介质
铁电性
氧化铟锡
矫顽力
铟
电流密度
凝聚态物理
光电子学
纳米技术
色谱法
量子力学
物理
化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊:Journal of Materials Science Materials in Electronics 作者:Xiaobin Xie; Shiju Yang; Fengqing Zhang; Suhua Fan; Quande Che; et al 出版日期:2015-09-01 |
| 求助人 | |
| 下载 | 求助已完成,仅限求助人下载。 |
|
温馨提示:该文献已被科研通 学术中心 收录,前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库,收集文献的基本信息(如标题、摘要、期刊、作者、被引量等),不提供下载功能。如需下载文献全文,请通过文献求助获取。
|