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Analysis of the electronic and chemical structure in boron and phosphorus passivated 4H-SiC/SiO2 interfaces using HRTEM and STEM-EELS |
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期刊:Applied Physics Letters 作者:Joshua A. Taillon; Christopher J. Klingshirn; Chunkun Jiao; Yongju Zheng; Sarit Dhar; et al 出版日期:2018 |
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(2025-6-4)