| 标题 |
  Estimation of Phosphorus Concentration in Silicon Thin Film on Glass Using ToF-SIMS 用ToF-SIMS估算玻璃上硅薄膜中的磷浓度
相关领域
硅
薄脆饼
二次离子质谱法
分析化学（期刊）
兴奋剂
基质（水族馆）
掺杂剂
杂质
磷
化学
材料科学
质谱法
光电子学
冶金
环境化学
色谱法
海洋学
地质学
有机化学
|
| 网址 | |
| DOI | |
| 其它 |
期刊：Mass spectrometry letters 作者：M. Abul Hossion; Karthick Murukesan; Brij M. Arora 出版日期：2021-06-01 |
| 求助人 |
端庄的电灯胆
在
2025-08-29 17:41:29 发布，悬赏 10 积分
|
| 下载 | 该求助完结已超 24 小时，文件已从服务器自动删除，无法下载。 |
|
温馨提示：该文献已被科研通 学术中心 收录，前往查看
科研通『学术中心』是文献索引库，收集文献的基本信息（如标题、摘要、期刊、作者、被引量等），不提供下载功能。如需下载文献全文，请通过文献求助获取。
|
PDF的下载单位、IP信息已删除
爱静静
linkman
飲啖茶食個包
Virtual
GingerF
喜悦荧
qiuer7
aldehyde
安详的忆安
小花排草
七月流火
小天
核桃
AAA
mayhem
lkkkkk
pluto
鲤鱼不言
zhonghebi
酷酷白凡
皖公网安备34019202002308
