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 Identification of deep level defects in CdTe solar cells using transient photo-capacitance spectroscopy 用瞬态光电电容光谱识别CdTe太阳电池中的深能级缺陷
相关领域
碲化镉光电
深能级瞬态光谱
光电子学
材料科学
电容
猝灭（荧光）
异质结
重组
光致发光
活化能
带隙
晶体缺陷
分子物理学
化学
光学
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物理
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物理化学
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硅
电极
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期刊：Japanese Journal of Applied Physics 作者：Chuang Li; Xia Hao; Yulu He; Jingquan Zhang; Lili Wu; et al 出版日期：2020-11-25 |
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