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标题
Time-dependent dielectric breakdown statistics in SiO<inf>2</inf> and HfO<inf>2</inf> dielectrics: Insights from a multi-scale modeling approach
SiO2和HfO2电介质中与时间相关的介电击穿统计：来自多尺度建模方法的见解
相关领域
威布尔分布 随时间变化的栅氧化层击穿 电介质 比例（比率） 破损 介电强度 材料科学 算法 物理 计算机科学 统计 栅极电介质 数学 光电子学 量子力学 复合材料 电压 晶体管
网址
https://doi.org/10.1109/irps.2018.8353552
DOI
10.1109/irps.2018.8353552 doi
其它 期刊：2022 IEEE International Reliability Physics Symposium (IRPS)
作者：Andrea Padovani; Luca Larcher
出版日期：2018-03-01
求助人
lgh 在 2025-05-08 17:11:04 发布自陕西，悬赏 10 积分
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