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 Angle-dependence of ADF-STEM intensities for chemical analysis of InGaN/GaN InGaN/GaN化学分析中ADF-STEM强度的角度依赖性
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材料科学
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毫米
扫描透射电子显微镜
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光电子学
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期刊：Ultramicroscopy 作者：Tim Grieb; Florian F. Krause; Knut Müller-Caspary; Jan-Philipp Ahl; Marco Schowalter; et al 出版日期：2022-04-25 |
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