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Angle-dependence of ADF-STEM intensities for chemical analysis of InGaN/GaN InGaN/GaN化学分析中ADF-STEM强度的角度依赖性
相关领域
散射
铟
材料科学
光学
毫米
扫描透射电子显微镜
分子物理学
化学
物理
透射电子显微镜
光电子学
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期刊:Ultramicroscopy 作者:Tim Grieb; Florian F. Krause; Knut Müller-Caspary; Jan-Philipp Ahl; Marco Schowalter; et al 出版日期:2022-04-25 |
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