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Dependence of Epitaxial Layer Defect Morphology on Substrate Particle Contamination of Si Epitaxial Wafer 相关领域
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期刊:Journal of The Electrochemical Society 作者:M. Iwabuchi; Koichi Mizushima; Masaya Mizuno; Y. Kitagawara 出版日期:2000-01-01 |
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