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 Femtosecond X-ray Tracking of Oxygen Vacancy-DrivenShallow-to-Deep Trap Transition and Its Impact on ChargeCarrier Dynamics in Blue TiO2 相关领域
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| 其它 | 作者：Tae Gyun Woo，Woo Hyeok Kim，Sungin Yun |
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(2025-6-4)
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