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Model for Bias Frequency Effects on Plasma-Damaged Layer Formation in Si Substrates
偏频对硅衬底等离子体损伤层形成的影响模型
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期刊:Japanese Journal of Applied Physics 作者:Koji Eriguchi; Yoshinori Nakakubo; Asahiko Matsuda; Yoshinori Takao; Ken Ono 出版日期:2010-05-01 |
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